Щербаков Александр Вячеславович

Кандидат физико-математических наук по специальности "Лазерная физика". Старший научный сотрудник ПАО  "Институт электронных управляющих машин им. И.С.Брука». 

Специалист в области проектирования и технологии оптоэлектронного оборудования (включая наноэлектронные, нанофотонные, интегрально-оптические и волоконно-оптические устройства),  приборов для промышленной диагностики и оптического контроля полупроводниковых структур, медицинского оптоэлектронного оборудования, а также новых материалов для создания перспективных устройств фотоники и оптоэлектроники.  Общий опыт работы в области фотоники составляет более 15 лет, в том числе по проектам Российской академии наук (лаборатория прецизионных оптических измерений ИАПУ ДВО РАН), компании Samsung Electronics (группа нанооптики московского исследовательского центра Samsung), компании LG Electronics ( группа оптики исследовательского центра LG Russia) и др. Руководитель направления «Проектор с дополненной реальностью» ООО "НаноРельеф Дисплей" (резидент фонда «Сколково»).

 

Публикации:

1) Ю.Н. Кульчин, А.В. Щербаков, В.П. Дзюба, С.С. Вознесенский, Г.Т. Микаелян, "Нелинейно-оптические свойства гетерогенных жидких нанофазных композитов на основе широкозонных наночастиц Al2O3", Квант. электроника, 2008, 38 (2), 154–158.

2) Кульчин Ю.Н., Дзюба В.П., Щербаков А.В Спектр пропускания света диэлектрическими наночастицами в объемных гетерокомпозитах// ФТП, 2009, том 43, выпуск 3, с. 349-354.

3) Ю.Н.Кульчин, А.В.Щербаков, В.П.Дзюба, С.С.Вознесенский. Взаимодействие коллинеарных световых пучков с разными длинами волн в гетерогенном жидкофазном нанокомпозите // ПЖТФ, 2009, том 35, выпуск 14, с. 1 – 7.

4) M.V. Ryabko, S.N. Koptyaev, A.V. Shcherbakov, A.D. Lantsov, and S.Y. Oh. Method for optical inspection of nanoscale objects based upon analysis of their defocused images and features of its practical implementation// Optics Express, Vol. 21, Issue 21, pp. 24483-24489 (2013).

5) Maxim Ryabko, Alexey Shchekin, Sergey Koptyaev, Alexey Lantsov, Anton Medvedev, Alexander Shcherbakov, and Sang Yoon Oh Through-focus scanning optical microscopy (TSOM) considering optical aberrations: practical implementation // Optics Express,

6) Vol. 23, Issue 25, pp. 32215-32221 (2015)

7) Maxim Ryabko, Sergey Koptyaev, Alexander Shcherbakov, Alexey Lantsov, and S. Y. Oh. Motion-free all optical inspection system for nanoscale topology control // Optics Express, Vol. 22, Issue 12, pp. 14958-14963 (2014)

8) M. Ryabko, S. Koptyaev, A. Shcherbakov, A. Lantsov. Interferometer-based Technology for Optical Nanoscale Inspection// MEASUREMENT SCIENCE REVIEW, Volume 14, No. 1, 2014).

9) Щербаков А.В., Баловнев Д.А., Знайко Г.Г.Определение точностных характеристик видеоокулографов с помощью имитатора глаза человека // Вопросы радиоэлектроники, 2018, №2

 

Патенты:

1) Способ получения кремнийорганических дендронов (патент РФ № 2424244)

2) Optical measuring system and method of measuring critical size ( US9322640B2)

3) Method and device for measuring critical dimension of nanostructure ( US9400254B2)

4) Laser speckle interferometric system and method for mobile devices( US10206576B2)

Программы преподавателя
Яндекс.Метрика