24
часа

Методы микроскопии: микро- и наноструктуры

Стоимость за одного участника
35 000 рублей
Дата проведения
19 мая → 21 мая
Выбрать другую дату
Зарегистрироваться
alt

Настоящая программа повышения квалификации «Методы микроскопии: микро- и наноструктуры» направлена на формирование и совершенствование знаний в области методов измерений микро- и наноматериалов.

Курс охватывает основные вопросы по проведению измерений микро- и наноматериалов различными методами и методиками, анализа результатов измерений, а также выработки выводов по наиболее эффективному и адекватному их применению при работе на различных типах устройств, применяемых в микроскопии.

Освоение программы рассчитано на инженерно-технических работников с высшим профессиональным образованием, занимающихся проектированием, производством, управлением производства материалов и компонентов микро- и наносистемной техники, в сфере технического обеспечения технологических процессов микро- и наноразмерных электромеханических систем, в сфере разработки, эксплуатации и обслуживания технологического оборудования и аппаратно-программных средств для производства материалов и компонентов нано- и микросистемной техники, а также на руководителей среднего звена организаций

Слушателям, успешно прошедшим обучение, выдается удостоверение о повышении квалификации установленного образца.

Место проведения

Москва, 127273, улица Березовая Аллея, дом 5А, строение 5
Телефон: +7 499 504 1618

Посмотреть на карте

Программа обучения

Программа рассчитана на повышение профессиональных компетенций сотрудников, занятых в производстве электрооборудования, электронного и оптического оборудования (в сфере проектирования и производства материалов и компонентов нано- и микросистемной техники, в сфере управления производством материалов и компонентов нано- и микросистемной техники, в сфере технического обеспечения технологических процессов микро- и наноразмерных электромеханических систем), а также работников, занятых  в сквозных видах профессиональной деятельности в промышленности (в сфере разработки, эксплуатации и обслуживания технологического оборудования и аппаратно-программных средств для производства материалов и компонентов нано- и микросистемной техники).

В результате прохождения программы слушатели освоят широкий спектр профессиональных компетенций в области научно-исследовательской деятельности, современных технологических процессов создания наноматериалов, наноструктур, приборов, устройств и систем на их основе, а также методов микроанализа и контроля качества выпускаемой продукции на разных стадиях производства полупроводниковых устройств. 

Программа охватывает следующие профессиональные задачи:

  • Анализ материалов и компонентов нано- и микросистемной техники;
  • Контроль качества элементов нано- и микросистем(производство микропроцессоров, полупроводников, тонких пленок, квантовых точек);
  • Перспективы применения наноматериалов.

Тематический план:

Тема 1. Наноразмерные структуры

Рассматриваются основные сведения о наноструктурах, принципиальный базис нанотехнологий, пространственные масштабы современных систем, различные размерности наноструктур, разновидности наноструктур.

Особенности свойств наноструктур, термодинамические, магнитные, свойства проводимости.

Тема 2. Классификация наноструктур

Наноструктурные объекты разделяют на: нульмерные; одномерные; двухмерные; трехмерные. Выделяют несколько основных разновидностей наноматериалов: консолидированные наноматериалы; нанополупроводники; нанополимеры; нанобиоматериалы; фуллерены и нанотрубки; наночастицы и нанопорошки; нанопористые материалы; супрамолекулярные структуры.

Тема 3. Сравнение методов анализа в нанотехнологиях

Сканирующий туннельный микроскоп важнейший инструмент нанотехнологий. Достоинства и недостатки СТМ. Технические сложности АСМ. Преимущества электронной микроскопии и физические ограничения РЭМ.

Тема 4. Спектроскопия и хроматография

Основные понятия спектроскопии. Особенность оптической спектроскопии. Преимущества спектроскопии перед другими методами анализа. Понятие хроматографии. Отличия хроматографических методов от других физико-химических методов анализа. Классификация видов хроматографии и спектрометрии.

Тема 5. Электронная микроскопия

Основы электронной микроскопии. Существующие виды электронных микроскопов. Просвечивающая и растровая микроскопия Конструкции электронных микроскопов. Особенности подготовки образцов. Методы визуализации. Технические возможности, достоинства и недостатки.

Тема 6. Зеркальная электронная микроскопия

Физические основы зеркальной электронной микроскопии. Конструкция зеркального электронного микроскопа. Виды отображения результатов. Разрешение и чувствительность. Применение ЗЭМ.

Тема 7. Рентгеноспектральный микроанализ

Физические основы рентгеноспектрального микроанализа. Устройство и работа рентгеноспектрального микроанализатора. Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним. Технические возможности рентгеноспектрального микроанализатора. Области применения рентгеноспектрального микроанализатора.

Тема 8. Сканирующая зондовая микроскопия

Принцип сканирующей зондовой микроскопии. Устройство микроскопов. Сканирующие элементы зондовых микроскопов. Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий. Общие принципы работы атомно-силового микроскопа. Принцип работы СТМ. Проблемы с которыми сталкивается СЗМ.

Тема 9. Оптическая микроскопия

Основные характеристики оптических систем. Типы оптических микроскопов. Принципы конфокальной микроскопии. Основные характеристики лазерного конфокального микроскопа.

Тема 10. Ближнепольная микроскопия

Ближнепольная оптическая микроскопия, основные принципы. Зонды БОМ на основе оптического волокна. метод контроля расстояния зонд-поверхность. Конфигурации БОМ. Магнитный силовой микроскоп (МСМ). Электростатический силовой микроскоп (ЭСМ).

Скрябин Игорь Олегович
Преподаватель Скрябин Игорь Олегович
Документ об окончании

В стоимость входит
  1. Занятия с преподавателем
  2. Раздаточные материалы
  3. Кофе-брейки
  4. Обеды
Отзывы слушателей
Яндекс.Метрика