24
часа

Проектирование СВЧ-фильтров с применением САПР AWR DE

Стоимость за одного участника
35 000 рублей
Дата проведения
01 декабря → 03 декабря
Выбрать другую дату
Зарегистрироваться
alt

Настоящая программа рассчитана на инженерно-технических работников с высшим профессиональным образованием, занимающихся практической разработкой пассивных СВЧ-устройств на сосредоточенных и распределенных элементах. Программа направлена на приобретение знаний в области моделирования пассивных СВЧ-устройств с помощью одной из самых популярных САПР – AWR DE.

Слушателям, успешно прошедшим обучение, выдается удостоверение о повышении квалификации установленного образца.

Место проведения

Москва, 127273, улица Березовая Аллея, дом 5А, строение 5, Учебный центр Новой Инженерной Школы
Телефон: +7 499 504 1618

Посмотреть на карте

Программа обучения

Настоящий курс повышения квалификации направлен на приобретение базовых знаний для разработчиков пассивных планарных устройств СВЧ диапазона. Программа охватывает следующие профессиональные задачи:

  • моделирование и расчет на уровне принципиальных схем;
  • оптимизацию характеристик схем по выбранным критериям;
  • проведение анализа выхода годных для моделируемых схем;
  • получение топологии для разработанной схемы с целью передачи на производство для изготовления печатной платы.

Тематический план:

1. Введение. Где брать информацию о конкретных схемах реализации фильтров или согласующих цепей?

1.1. Книги. Подборка литературы по проектированию фильтров (на русском и английском языках, с указанием ресурсов, где можно найти эти книги).

1.2. Статьи. С указанием ресурсов, на которых можно найти статьи по фильтрам.

1.3. Соцсети, тематические форумы, другие онлайн ресурсы. С указанием аккаунтов в соцсетях, форумов и сайтов.

1.4. Специализированное ПО для синтеза фильтров, согласующих цепей и цепей связи.

2. Фильтр идеальный и фильтр реальный на сосредоточенных элементах.

2.1. Чем реальный сосредоточенный элемент отличается от идеального. Где брать данные по реальным элементам (офлайн библиотеки AWR, данные с сайтов производителей, библиотеки Modelithics).

2.2. Влияние элементов топологии и межсоединений на характеристики проектируемого фильтра. На примере исходного фильтра с идеальными элементами показано, как на характеристики влияет добавление элементов топологии (контактные площадки, линии связи) и межсоединений (переходные отверстия, ленточные или проволочные перемычки).

2.3. Замена идеальных элементов на реальные сосредоточенные элементы и учет разных факторов (влияние подложки, межвитковая связь). Замена идеальных элементов на полураспределенные (реализация емкостей и индуктивностей в печатном виде). Метод Олинера и скорость расчета. Физическая реализуемость элемента. Переход от топологии «closed form» к ЭМ-топологии, рассчитанной с помощью AXIEM (MoM), внутренние порты, опорные плоскости портов. Влияние технологических параметров (толщина металлизации, финишные покрытия) на характеристики фильтра.

2.4. Подстройка номиналов в реальном времени. Оптимизация по заданным критериям.

2.5. Выполнение анализа выхода годных. Чувствительность характеристик фильтра к номиналам элементов и допускам на номиналы. Диаграмма Паретто.

2.6. Подготовка макетных образцов. Реальная «земля» и ее влияние на характеристики проектируемого устройства. Сравнение результатов расчета и результатов обмера макетных плат. Влияние КМПП и другой оснастки на результаты измерения, проведение калибровок ВАЦ.

3. Фильтр идеальный и фильтр реальный на распределенных элементах.

3.1. Расчет волновых сопротивлений МПЛ и других видов линий передачи. Утилита TXLine.

3.2. Реализация фильтра на элементах «closed form», метод Олинера, подстройка в реальном времени (Tune), проведение оптимизации.

3.3. Переход от «closed form» к электродинамической модели (AXIEM). Настройка экстракции, ее параметры.

3.4. Отличие ЭМ-модели фильтра от фильтра на элементах «closed form». Последующая оптимизация и подстройка фильтра.

3.5. Получение фильтра с заданными характеристиками. Проведение анализа выхода годных с учетом заданных технологических допусков. Влияние на характеристики, оценка чувствительности.

3.6. Подготовка макетной платы рассчитанного фильтра. Реальная «земля» и ее влияние на характеристики проектируемого устройства. Учет влияния КМПП. Экспорт гербер-файлов и подготовка к производству.

3.7. Сравнение результатов моделирования с результатами измерения фильтра. Варианты подстройки фильтра (элементы подстройки, укорочение подрезанием, удлинение с помощью индиевой фольги элементов топологии фильтра; изменение связи между элементами фильтра с помощью диэлектрических вставок). 

Документ об окончании

В стоимость входит
  1. Занятия с преподавателем
  2. Раздаточные материалы
  3. Кофе-брейки
  4. Обеды
Отзывы слушателей
Яндекс.Метрика